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美国:Implant Sciences颗粒去除系统获专利

2012-04-23 00:00:00浏览:590评论:0 来源:电控网   
核心摘要:  据美国媒体3月21日报道,国土安全市场传感器系统领先制造商美国Implant Sciences公司于当日宣布,已获得美国专利与商标局颁发

  据美国媒体3月21日报道,国土安全市场传感器系统领先制造商美国Implant Sciences公司于当日宣布,已获得美国专利与商标局颁发的8,122,756专利。该专利题为 “麻醉毒品和爆炸物颗粒去除系统”,其中包括从目标表面去除颗粒,增强样品采集的方法。

  Implant Sciences公司技术部副总裁表示,非接触样品采集允许痕量检测技术获得更广泛的部署选项。该发明旨在提高非接触式采样技术的收集效率。

  Implant Sciences公司总裁兼首席执行官格伦·博尔达克先生表示,这是他们收到的第十二个专利,它进一步印证了Implant Sciences公司努力成为爆炸物与麻醉毒品检测技术创新者的承诺。他们已经推出的新技术包括非放射性离子化、非接触式采样和自动校准。他们所取得的突破将继续开拓新的市场机遇,为股东带来价值。(责任编辑 庄青)

 

(责任编辑:必达)
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