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美国:布鲁克HI 90成像仪亮相2012匹兹堡展会

2012-04-23 00:00:00浏览:997评论:0 来源:电控网   
核心摘要:  据澳大利亚媒体3月14日报道,美国布鲁克科技公司(Bruker)发表报告称,公司近日成功在奥兰多橘州展览中心举办的第62届匹兹堡国

  据澳大利亚媒体3月14日报道,美国布鲁克科技公司(Bruker)发表报告称,公司近日成功在奥兰多橘州展览中心举办的第62届匹兹堡国际仪器展览会(The Pittcon 2012 Exposition)上展出了HI 90 FT-MIR分光仪。

  据了解,新型布鲁克高光谱成像系统HI 90是一款基于迈克尔逊干涉仪与焦平面阵列探测器结合体的远程化学感应成像系统。该产品已于去年6月面世,可以远程快速识别、量化、可视化潜在的有害气体,保护工人、居民与环境。

  据悉,该超光谱成像仪可以同时测量所有像素,速度较传统扫描系统快1000倍,主要应用于国土安全、大气研究、环境研究、火山学、工业安全、泄漏探测、质量控制等领域。除了气体感测外,新型HI 90也非常适用于固体与液体的远程感测,从地质与环境应用到国土安全,HI 90高光谱成像仪都可以追踪检测并测绘化学战争物质等液体。(责任编辑:许悦)

 

(责任编辑:必达)
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